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面向制造設計 文章 進入面向制造設計技術社區(qū)

SOC芯片設計與測試

  •   摘要:SOC已經(jīng)成為集成電路設計的主流。SOC測試變得越來越復雜,在設計時必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統(tǒng)為例,在其設計、測試和可制造性等方面進行研究,并詳細介紹了SOC測試解決方案及設計考慮。 關鍵詞:單芯片系統(tǒng);面向測試設計;面向制造設計;位失效圖;自動測試設備     引言     以往的系統(tǒng)設計是將CPU,DSP,PLL,ADC,DAC或Memory等電路設計成IC后,再加以組合變成完整的系統(tǒng),但現(xiàn)今的設計方式是
  • 關鍵字: SOC  單芯片系統(tǒng)  面向測試設計  面向制造設計  位失效圖  自動測試設備  
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面向制造設計介紹

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