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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試技術(shù)

熱烈慶祝東方集成成為“安捷倫大中華南區(qū)IET產(chǎn)品”總代理

  • 自2012年11月1日起，北京東方中科集成科技股份有限公司繼華北、華東地區(qū)后，正式成為安捷倫華南地區(qū)授權(quán)分銷商!并成為安捷倫工業(yè)測試產(chǎn)品的華南地區(qū)的平臺，為華南地區(qū)的工業(yè)及現(xiàn)場維護(hù)類用戶提供全套的測試解決方案，同時(shí)也支持華南地區(qū)的二級分銷商的銷售和技術(shù)支持工作!東方集成公司將依托自身的服務(wù)優(yōu)勢
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網(wǎng)絡(luò)化測試技術(shù)淺談

  • 1 引 言隨著生產(chǎn)過程自動化控制要求的不斷提高，傳統(tǒng)測試系統(tǒng)的缺點(diǎn)越來越突出。① 儀器間的匹配問題以及儀器間的測量精度使整個(gè)測試系統(tǒng)精度的提高受到限制;② 傳統(tǒng)測試系統(tǒng)由多臺測量儀器組成，信號的傳輸速度受到
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基于AFDX總線的終端系統(tǒng)測試技術(shù)

對使用新型測試技術(shù)和儀器的幾點(diǎn)忠告

  • 隨著半導(dǎo)體制造商向65納米技術(shù)轉(zhuǎn)移并展望更小節(jié)點(diǎn)，嚴(yán)峻的測試挑戰(zhàn)也開始浮出水面?，F(xiàn)在，工藝開發(fā)工程師們必須放棄由硅、二氧化硅、多晶硅和鋁材料構(gòu)成的良性世界，而將自己置于由硅鍺(SiGe)、絕緣體上硅(SOI)、亞硝
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高密度封裝技術(shù)推動測試技術(shù)發(fā)展

  • 自80年代中后期開始，IC（集成電路）封裝技術(shù)就不斷向著高度集成化、高性能化、多引線和細(xì)間距化方向發(fā)展，并驅(qū)使著...
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LTE測試技術(shù)的基礎(chǔ)知識

  • 長期演進(jìn)(LTE)無線網(wǎng)絡(luò)給測試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù)，在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù)，且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線配置以最大
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電磁兼容設(shè)計(jì)及測試技術(shù)分析

  • 當(dāng)前，日益惡化的電磁環(huán)境，使我們逐漸關(guān)注設(shè)備的工作環(huán)境，日益關(guān)注電磁環(huán)境對電子設(shè)備的影響，從設(shè)計(jì)開始，融入...
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淺析實(shí)時(shí)頻譜測試技術(shù)原理及應(yīng)用

  • 前言19世紀(jì)60年代,James Maxwell 通過計(jì)算推斷出存在著能夠通過真空傳輸能量的電磁波。此后工程師和科學(xué)家們一直在尋求創(chuàng)新方法利用無線電技術(shù)。接下來,隨著軍事和通信領(lǐng)域技術(shù)的深入發(fā)展，20世紀(jì)無線電技術(shù)一直在不
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PCB通用的測試技術(shù)

  • 一、引言前隨著使用大規(guī)模集成電路的產(chǎn)品不斷出現(xiàn)，相應(yīng)的PCB的安裝和測試工作已越來越重要。印制電路板的通用測試是PCB行業(yè)傳統(tǒng)的測試技術(shù)、最早的通用電性測試技術(shù)可追溯至七十年代末八十年代初，由于當(dāng)時(shí)的元器件
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EPON測試技術(shù)

  • 1 引言伴隨著寬帶接入技術(shù)的迅速發(fā)展，各種新興的寬帶接入技術(shù)如雨后春筍般不斷涌現(xiàn)。PON技術(shù)是繼DSL技術(shù)和Cable技術(shù)后，又一個(gè)理想的接入平臺，PON可以直接提供光業(yè)務(wù)或FTTH業(yè)務(wù)。EPON(以太網(wǎng)+無源光網(wǎng)絡(luò))是一種新型
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關(guān)于IP網(wǎng)絡(luò)測試技術(shù)與方法探討

  • 一個(gè)高品質(zhì)的網(wǎng)絡(luò)要通過業(yè)務(wù)設(shè)計(jì)和定位、網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)、設(shè)備選型、工程建設(shè)、方案驗(yàn)證和持續(xù)優(yōu)化、維護(hù)管理6個(gè)環(huán)節(jié)來保證，其中設(shè)備選型、方案驗(yàn)證和優(yōu)化主要通過選型測試和網(wǎng)絡(luò)測試實(shí)現(xiàn)。為此中國電信于2004年初和2005年
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開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)測試技術(shù)

  • 建模、仿真和CAD是一種新的、方便且節(jié)省的設(shè)計(jì)工具。為仿真開關(guān)電源，首先要仿真建模。仿真建模中應(yīng)包括...
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整合LED測試技術(shù)解決方案

  • 阻礙LED照明應(yīng)用美好前程的三大難題盡管不斷有業(yè)內(nèi)人士拋出LED行業(yè)存在各種隱憂的言論，但仍然無法阻擋廣大企業(yè)想吃到這塊“燙手山芋”的熱情。熱情需要理性來支撐，廣大開發(fā)者必須在實(shí)際開發(fā)和設(shè)計(jì)過程中
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虛擬儀器發(fā)展趨勢及其對軍用測試技術(shù)的影響

  • 1　引言從1986年NI公司提出VI概念到現(xiàn)在，經(jīng)過十幾年的發(fā)展，不僅VI技術(shù)本身的內(nèi)涵不斷豐富，外延不斷擴(kuò)展，在軍事和民用領(lǐng)域均得到了廣泛的應(yīng)用，而且對現(xiàn)代測控技術(shù)產(chǎn)生了深遠(yuǎn)的影響。例如，VI原來最核心的思想是利
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直流局部放電測試技術(shù)在電容器老化判斷中的應(yīng)用

  • 摘要本文在有較強(qiáng)環(huán)境干擾情況下通過對電容器進(jìn)行一系列直流局部放電試驗(yàn)，比較不同工作壽命的同批電容器的局部放電信號的典型差異，初步得出不同工作壽命的電容器的直流局部放電最大放電量和放電次數(shù)有較明顯的差異
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