抖動(jitter)測量 文章 進(jìn)入抖動(jitter)測量技術(shù)社區(qū)
數(shù)字隔離器高壓可靠性測量
- 工藝流程和設(shè)備的詳細(xì)展示用于表征我們數(shù)字隔離器的長期可靠性,以及他們?nèi)绾卧陉P(guān)鍵的安全能力方面超越光電耦合器。對于初次使用,設(shè)計人員可以在現(xiàn)有電路中使用引腳兼容的基于CMOS的隔離器替換光電耦合器,該基于CM
- 關(guān)鍵字: 數(shù)字隔離器 可靠性 測量
為MEMS產(chǎn)業(yè)打造測量標(biāo)準(zhǔn)

- 隨著微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)快速拓展在消費(fèi)產(chǎn)業(yè)中的應(yīng)用,標(biāo)準(zhǔn)的MEMS元件測量方法有助提高M(jìn)EMS元件測試效率,減少成本和測試時間,并促進(jìn)不同製造商之間的產(chǎn)品互通性。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院(NIST)稍早前推出新的測量工具,能協(xié)助MEMS元件設(shè)計師、製造商測量MEMS元件的關(guān)鍵8維參數(shù)和材料特性。 ? 附圖 : 新的NIST測試晶片能促進(jìn)不同製造商之間的產(chǎn)品互通性。(圖片來源:NIST) MEMS最初的主要應(yīng)用是汽車安全氣囊的加速度計,而今它已擴(kuò)展到廣大的消電子市場
- 關(guān)鍵字: MEMS 測量
臺灣自行開發(fā)出顯示器2D測量技術(shù)
- 顯示器的色彩表現(xiàn)與影像品質(zhì),是決定產(chǎn)品優(yōu)劣的最重要關(guān)鍵,因此除了開發(fā)技術(shù)之外,最后的品質(zhì)的量測更是重要。過去顯示器的量測以點(diǎn)取樣,要取得有參考價值的數(shù)據(jù)必需量測相當(dāng)多點(diǎn),耗時且操作繁復(fù)。 工研院在經(jīng)濟(jì)部標(biāo)準(zhǔn)檢驗局的支持下,開發(fā)出「快速色域量測技術(shù)」,運(yùn)用二維色度計及影像演算技術(shù),由傳統(tǒng)單「點(diǎn)」跨越至「面」的量測,相較于傳統(tǒng)方式提升約10倍的量測速度,并能兼顧色相、飽和度和亮度上的量測與調(diào)校,同時也提供即時調(diào)校的資訊與紀(jì)錄使操作人員能馬上同步取得回饋。此技術(shù)已與CHIMEI奇美的LED立體色域技術(shù)
- 關(guān)鍵字: 2D 測量
抖動(jitter)測量介紹
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