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集成電路測試機(jī)的挑戰(zhàn)與趨勢
- 迎?九?（《電子產(chǎn)品世界》編輯，北京?100036） 摘?要：介紹了集成電路測試機(jī)（ATE）面臨的挑戰(zhàn)與解決方案?！ ￡P(guān)鍵詞：集成電路；測試；微調(diào)；trim 集成電路自動測試設(shè)備（ATE，測試機(jī)）是檢測芯片功能和性能的專用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測，2019年中國測試機(jī)占據(jù)后道檢測設(shè)備62.8%的份額 [1] 。ATE測試的趨勢是什么？電子產(chǎn)品世界記者訪問了泰瑞達(dá)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士?！ ? 芯片測試的新挑戰(zhàn) 當(dāng)今的半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性
- 關(guān)鍵字： 202001 集成電路 測試 微調(diào) trim
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