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復(fù)雜性
復(fù)雜性 文章 進(jìn)入復(fù)雜性技術(shù)社區(qū)
通過(guò)左移DRC設(shè)計(jì)規(guī)則檢查方法降低IC設(shè)計(jì)復(fù)雜性
- 最成功的半導(dǎo)體公司都知道,集成電路 (IC) 設(shè)計(jì)日益復(fù)雜,這讓我們的傳統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)則檢查 (DRC) 方法不堪重負(fù)。迭代的“通過(guò)校正構(gòu)建”方法適用于更簡(jiǎn)單的自定義布局,但現(xiàn)在卻造成了大量的運(yùn)行時(shí)和資源瓶頸,阻礙了設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)有效驗(yàn)證其高級(jí)設(shè)計(jì)和滿足緊迫的上市時(shí)間目標(biāo)的能力。為了克服這種設(shè)計(jì)復(fù)雜性,主要半導(dǎo)體公司不斷從其生態(tài)系統(tǒng)合作伙伴那里尋找有效的工具。西門子 EDA 是一家大型電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化 (EDA) 公司,它提供了一種新的、強(qiáng)大的左移驗(yàn)證策略,他們對(duì)其進(jìn)行了評(píng)估并宣布它改變了他們?cè)缙谠O(shè)計(jì)階段的游
- 關(guān)鍵字: 左移DRC 設(shè)計(jì)規(guī)則 IC設(shè)計(jì) 復(fù)雜性
SoC設(shè)計(jì):復(fù)雜性為驗(yàn)證提出更高要求
- 由于片上系統(tǒng)(SoC)設(shè)計(jì)變得越來(lái)越復(fù)雜,驗(yàn)證面臨著巨大的挑戰(zhàn)。大型團(tuán)隊(duì)不斷利用更多資源來(lái)尋求最高效的方法,從而將新的方法學(xué)與驗(yàn)證整合在一起,并最終將設(shè)計(jì)與驗(yàn)證整合在一起。雖然我們知道實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證計(jì)劃幾乎占去了整個(gè)芯片設(shè)計(jì)工作的2/3,但是我們還是發(fā)現(xiàn)有團(tuán)隊(duì)遲交芯片,錯(cuò)過(guò)計(jì)劃的流片最終期限。這種疏忽可能造成嚴(yán)重的商業(yè)后果,因?yàn)檫@意味著硬件和軟件錯(cuò)誤經(jīng)常被遺漏,直到設(shè)計(jì)周期的晚期。 為了創(chuàng)建一個(gè)全面的驗(yàn)證解決方案,我們首先必須認(rèn)識(shí)到設(shè)計(jì)工程師和驗(yàn)證工程師所面臨的分歧和挑戰(zhàn)。在這個(gè)過(guò)程中,我們發(fā)現(xiàn)某些
- 關(guān)鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機(jī) SoC 復(fù)雜性 片上系統(tǒng) SoC ASIC
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復(fù)雜性介紹
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