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器件測(cè)試
器件測(cè)試 文章 進(jìn)入器件測(cè)試技術(shù)社區(qū)
最新吉時(shí)利SMU模塊解決了低電流、高電容的棘手測(cè)試挑戰(zhàn)
- Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀模塊為擁有高測(cè)試連接電容、不穩(wěn)定低電流測(cè)量的應(yīng)用提供了理想的解決方案中國(guó)北京2019年11月13日 – 泰克科技公司日前宣布，為Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀推出兩款最新源測(cè)量單元(SMU)模塊，即使在由于長(zhǎng)電纜和復(fù)雜的測(cè)試設(shè)置而產(chǎn)生高負(fù)載電容時(shí)，其仍能執(zhí)行低電流測(cè)量。許多主要測(cè)試應(yīng)用都面臨著這一挑戰(zhàn)，如LCD顯示器制造和卡盤(pán)上的納米FET器件測(cè)試。在被測(cè)器件本身電容很小的情況下，許多低電流測(cè)量應(yīng)用中所需要的測(cè)試設(shè)置也會(huì)增加SMU輸出端的電容。
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器件測(cè)試介紹
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