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LED光電特性的測試內(nèi)容與方法介紹
- 半導體發(fā)光二極管（LED）是新型的發(fā)光體，電光效率高、體積小、壽命長、電壓低、節(jié)能和環(huán)保，是下一代理想的照明器件。LED光電測試是檢驗LED光電性能的重要而且唯一的手段，相應的測試結果是評價和反映當前我國LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的依據(jù)。制定LED光電測試方法的標準是統(tǒng)一衡量LED產(chǎn)品光電性能的重要途徑，是使測試結果真實反映我國LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的前提。本文結合最新的LED測試方法的國家標準，介紹了LED的光電性能測試的幾個主要方面。
- 關鍵字： 方法 介紹 內(nèi)容 測試 光電 特性 LED
寬帶、內(nèi)容和消費電子產(chǎn)品的整合給2007國際消費電子展一個新的定位
- 寬帶、內(nèi)容和消費電子產(chǎn)品的整合給2007國際消費電子展一個新的定位 CES這一世界最大的科技產(chǎn)品展的參與人數(shù)創(chuàng)歷史紀錄，消費電子產(chǎn)品和內(nèi)容產(chǎn)業(yè)的合作取得了突破性進展 2007國際消費電子展（the 2007 International CES）今年的展場總面積達180萬平方英尺，創(chuàng)歷史之最；來自世界各地超過140,000名參與者來這里領略了2,700家參展商帶來的最新科技產(chǎn)品，這使得2007國際消費電子展作為全世界最大的消費電子產(chǎn)品展的地位得到進一步加強。由美國消費電子協(xié)會（
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