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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 介電常數(shù)

PCB多基板的設(shè)計性能要求

  • 多基板的設(shè)計性能大多數(shù)與單基板或雙基板類似，那就是注意避免使太多的電路塞滿太小的空間，從而造成不切實際的公差、高的內(nèi)層容量、甚至可能危及產(chǎn)品質(zhì)量的安全。因此，性能規(guī)范應(yīng)該考慮內(nèi)層線路的熱沖擊、絕緣電阻、焊接電阻等的完整的評估。以下內(nèi)容敘述了多基板設(shè)計中應(yīng)考慮的重要因素。
  • 關(guān)鍵字： PCB  多基板  介電常數(shù)  

高增益反射陣列天線的設(shè)計

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字： 高增益  天線  反射陣列  相控陣天線  介電常數(shù)  PBG  

高頻材料的選擇條件

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字： 高頻材料  介電常數(shù)  CTEr  介質(zhì)損耗  

基于LabWindows／CVI介質(zhì)復(fù)介電常數(shù)的測量系統(tǒng)設(shè)計

  • 摘 要：針對介質(zhì)復(fù)介電常數(shù)測量自動化的需要，根據(jù)微擾法理論設(shè)計一套基于LabWindows／CVI的介質(zhì)復(fù)介電常數(shù)的測量軟件系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)主要包括校準、矢網(wǎng)控制、計算三個模塊。用戶只需按照測試面板的提示即可完成對
  • 關(guān)鍵字： LabWindows  CVI  介質(zhì)  介電常數(shù)    
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介電常數(shù)介紹

介電常數(shù)-概述 BST薄膜介電常數(shù)的溫度特性 一個電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后電容變大ε倍。 電介質(zhì)有使空間比起實際尺寸變得更大或更小的屬性。例如，當一個電介質(zhì)材料放在兩個電荷之間，它會減少作用在它們之間的力，就像它們被移遠了一樣。 當電磁波穿過電介質(zhì)，波的速度被減小，有更短的波長。 相對介電常數(shù)εr可以用靜電場用如下方式測量:首先在其兩塊極板之間為空氣的時候測試電容器 [ 查看詳細 ]

介電常數(shù)專欄文章

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