設(shè)計(jì)面向軍用防御系統(tǒng)的高速數(shù)字測(cè)試
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時(shí)間：2009-05-20
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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反向探測(cè)步驟為：
本文引用地址：http://m.ptau.cn/article/94536.htm● 選擇希望的測(cè)試選項(xiàng)
● 選擇待調(diào)試與修復(fù)的故障線路(如果多于一條)
● 顯示探測(cè)指令以引導(dǎo)用戶(hù)
● 測(cè)試當(dāng)前的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)
數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)與LASAR 導(dǎo)入程序解決方案
我們利用NI 軟硬件，為SELEX 系統(tǒng)集成公司(一家重要的歐洲國(guó)防合同商)創(chuàng)建了一個(gè)高性能、低成本的數(shù)字測(cè)試解決方案。我們?cè)谠撓到y(tǒng)的創(chuàng)建中并沒(méi)有依賴(lài)訂制硬件或引入高成本的通用測(cè)試設(shè)備。NI提供了創(chuàng)建與傳統(tǒng)供應(yīng)商的自動(dòng)化數(shù)字測(cè)試設(shè)備相媲美的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)所需的必要工具。我們的解決方案節(jié)約了30%的時(shí)間，并獲得了顯著的性?xún)r(jià)比優(yōu)勢(shì)。
評(píng)論