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TFT-LCD驅動芯片測試平臺的設計和實現

作者:劉玉青 鄧文基 華南理工大學物理學院微電子系 時間:2008-08-01 來源:中國集成電路 收藏

3 系統(tǒng)軟件設計

本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/86532.htm

  (1)初始化和時序控制

  在硬件系統(tǒng)上電復位后,通過軟件根據,Flash,驅動芯片和的特性來初始化。包括設置定義各個接口引腳,設置寄存器的值確定的工作條件,工作模式等。把圖片和其他的顯示數據通過高速USB接口下載到片內RAM和片外Flash中。之后,根據的時序給顯示模組送顯示數據。的讀寫控制時序由圖5表示。IC的時序控制信號有RS,CS,WR,RD四個。它們分別是寄存器使能信號,片選信號,寫使能信號和讀使能信號。另外通過RST控制線來硬件復位。

  (2)寫程序

  包括寫片內RAM和寫片外Flash。較小數據量可以直接寫到片內RAM中,片內RAM的優(yōu)點是數據傳送速度快,可以在線調試,缺點是儲蓄容量較小。C8051F130的片內RAM是128 kBytes。存儲較大容量的圖片是需要采用片外Flash。片外的Flash傳送速度較慢,儲蓄容量較大,采用的AM29LV160內存大小是2 Mbytes。其存儲空間分布如表1。把一幅320*240的BMP格式文件轉為16位真彩的HEX文件,大小是150 kBytes。一個Flash中可以容納10幅圖片的數據量。C8051F130每次可以處理64 Kbytes以下的數據。為方便計算地址,將每幅圖片分成5段,前4段大小是32Kbytes,最后一段大小是22Kbytes。下載一個Flash中所有數據,分10*5次下載。

  從表中看到SA0~SA3的大小和SA4~SA34不同,在寫數據時要特別注意地址的分配。

  (3)讀程序

  可以從RAM或片外FLASH讀取。驅動IC和FLASH之間是采用直接讀取方式,FLASH中的數據通過時序控制直接通過Addr0~Addr17送到IC。

4 結束語

  本文針對LCD的調試環(huán)境設計一個基于C8051F130的測試平臺,全貌圖如圖6,圖7,FLASH在PCB背面。通過多次測試和試用,證明是一個高速,穩(wěn)定,方便的調試平臺。對類似COG調試和測試系統(tǒng)有借鑒意義。


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