ASE Test選擇惠瑞捷V93000 Port Scale RF進行復雜RF-SOC測試
ASE Test首席運營官Tien Wu表示:“為繼續(xù)向客戶提供最好的測試服務及利用最新技術,我們購買了最優(yōu)質的測試解決方案。我們的客戶已經(jīng)采用V93000 Port Scale RF測試最新、最先進的手機芯片。這是我們使用Port Scale RF在生產(chǎn)中測試的第一個器件,我們對其性能和測試結果質量非常滿意。”
惠瑞捷半導體科技有限公司銷售、服務和支持副總裁Pascal Ronde表示:“對于能夠進一步擴展與ASE Test的合作關系,我們感到非常高興。該公司新近購買我們的產(chǎn)品表明,作為世界上最先進的RF測試解決方案,Port Scale RF已經(jīng)得到業(yè)內的認可?,F(xiàn)在,ASE Test將能夠為客戶提供包括最新的3G和4G技術在內的全系列復雜RF-SoCs和RF-SiPs測試。”
惠瑞捷V93000簡介
惠瑞捷V93000是一套可擴充的平臺架構,能用以測試系統(tǒng)級芯片(SoCs)、系統(tǒng)級封裝(SIPs)、以及高速存儲器設備。具備RF測試能力的V93000系統(tǒng)在全球已已超過1,500套,不論是進行全速(At-speed)的工程特性分析或是大量的生產(chǎn)制造,都能解決業(yè)者在性能及成本上面臨的嚴苛挑戰(zhàn)。這套測試系統(tǒng)可提供低測試成本及大規(guī)模的多點測試能力,能支持高達12.8 Gbps的數(shù)據(jù)速率,以及各種數(shù)字、混合信號、射頻(RF)和無線應用,如移動電話、無線局域網(wǎng)(WLAN)、WiMAX和超寬帶(UWB)。
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