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Synopsys發(fā)布DESIGN COMPILER 2007

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作者: 時間:2007-04-24 來源:EEPW 收藏
發(fā)布了最新版 DESIGN Compiler 綜合解決方案—— Design Compiler 2007。新版本擴展了拓撲技術,以加速采用先進低功耗和測試技術的設計收斂,幫助設計人員提高生產效率和 IC 性能。

拓撲技術可幫助設計人員正確評估芯片在綜合過程中的功耗,在設計早期解決所有功耗問題。此外,還支持 Design Compiler 2007 中新的測試壓縮技術,在實現(xiàn)高質量測試的同時,減少測試時間和測試數(shù)據(jù)量超過 100 倍,并減少后續(xù)物理實現(xiàn)階段由于測試電路帶來的可能的布線擁塞。

Hisilicon 設計經理黃濤表示:“采用拓撲技術,綜合階段的性能預測與物理實現(xiàn)結果的一致性保持在 5%的偏差范圍以內。Design Compiler 2007 能夠在實現(xiàn)通訊設計的高要求性能目標的同時,平均節(jié)省 5% 芯片面積。與布局的緊密相關確保了卓越的性能,這正是設計者快速將有競爭力的產品推向市場所必需的?!?

拓撲技術使綜合的實現(xiàn)結果和物理實現(xiàn)的結果具有緊密的一致性,這避免了在實現(xiàn)設計收斂過程中的在 RTL 綜合和物理布局之間的耗時反復。Design C  
ompiler 與 Galaxy? 設計平臺物理設計解決方案共享技術和架構,可以實現(xiàn) RTL 到 GDSII 過程的一致和高度可預測性。

Cypress 數(shù)據(jù)通信部設計總監(jiān) Don Smith 表示:“Cypress 曾經遇到過相互沖突的測試目標,當時我們需要實現(xiàn)高測試覆蓋率,而我們的測試設備相對落后,而且只有極少可用引腳和有限的存儲器。我們評估了  的自適應掃描測試壓縮技術,并在不到一天的時間里就部署到了我們的流程中。根據(jù)得到的結果,我們確信能夠利用現(xiàn)有測試設備架構,提供最高質量的產品?!?

Design Compiler 2007 采用了多項創(chuàng)新綜合技術,如自適應retiming和功耗驅動門控時鐘,性能較以前版本平均提高 8%,面積減少 4%,功耗降低 5%。此外, Formality? 等效檢測解決方案得到了增強,能夠獨立、徹底地驗證這些技術,因此設計者無需舍去驗證就可以實現(xiàn)更高的性能。


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