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FPGA電路動態(tài)老化技術(shù)研究

作者: 時間:2011-03-31 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
電路加載配置過程的流程和原理進(jìn)行研討,設(shè)計了 電路動態(tài)的試驗(yàn)方法,并在工程實(shí)踐中得到了成功的實(shí)現(xiàn)和運(yùn)用。

雖然這里設(shè)計的電路和配置過程針對Xilinx 公司的Qpro Hi-Rel系列電路,但是對其他系列和其他公司的動態(tài)配置也有參考作用。本方法雖然實(shí)現(xiàn)了動態(tài)的目的,但還是存在著缺陷:現(xiàn)有電路的內(nèi)部門數(shù)已經(jīng)超過了100萬門,一般的配置程序只能占用FPGA 電路的部分內(nèi)部資源,并且用到的D 觸發(fā)器多了,則移位寄存器就少,通常是顧此失彼,因此要做到100%的動態(tài)試驗(yàn)還存在著一定的困難。


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關(guān)鍵詞: FPGA XQV100 Virtex 老化 xilinx

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