其中存儲器是由兩個寬度為4位、深度為1024的雙口RAM采用并聯(lián)的方式構成的。連接方法如圖5所示。

通過DIA端口將數據寫入雙口RAM，通過DOB端口將數據讀出，WEA和JENA接VCC，即接高電平，使雙口RAM的A部分工作在寫入狀態(tài)，在CLKA的上升沿通過DIA將數據寫入雙口RAM；WEB接GND，即接低電平；ENB接VCC，即接高電平，使雙口RAM的B部分工作在輸出狀態(tài)，在CLKB的上升沿通過DOB將數據輸出雙口RAM。
1．4 數據的分區(qū)存儲
本系統(tǒng)采用一片F(xiàn)LASH存儲器，該芯片有128M Byte的容量，根據計算32M Byte的容量就可以把需要采集的數據全部記錄下來，所以把存儲器按其塊地址順序分為4個區(qū)，每個區(qū)均為32M Byte。測試系統(tǒng)上電復位后首先進入的是自檢狀態(tài)，每次順序檢測第1區(qū)中是否有數據，如果沒有則把該次啟動的采集的數據順序寫入第l區(qū)中，直到第1區(qū)存儲完成，則停止記錄并且系統(tǒng)斷電。斷電后再一次啟動采集也一樣首先檢測第一塊中是否有數據，有數據則檢測下一塊是否有數據，若沒有數據，則順序把從FIFO中上傳的導彈飛行數據寫入存儲器，如果有數據，則依次地址跳到下下一塊，采集滿則停止，依次類推，直到把4個區(qū)都寫入了數據，則不論怎么啟動采集也不會把數據覆蓋再寫入，除非執(zhí)行擦除操作把存儲器中的數據清空。

這種多次啟動系統(tǒng)，存儲器分區(qū)記錄的技術使系統(tǒng)具有一定的冗余設計，雖然不能從根本上消除誤啟動而造成整個試驗的失敗，但是該技術在實際試驗中具有十分重大的意義。

2 系統(tǒng)的灌封技術
采集存儲系統(tǒng)需工作在高溫高壓等惡劣環(huán)境下，因此最重要的是它的防護結構的設計。在結構設計上采用了抗高沖擊的結構設計技術，主要包括：緩沖保護技術、灌封保護技術，力求能夠最好的保護好存儲模塊。圖7是采集存儲器的可靠性結構示意圖。圖7采集存儲器可靠性結構示意圖

3 創(chuàng)新性說明
本文介紹了一種基于FPGA的多路數據采集存儲系統(tǒng)的設計方法及其可靠性結構設計，該系統(tǒng)存儲容量大，體積小，可工作在高溫、高壓、強沖擊、強振動、高過載等惡劣環(huán)境下。采用了存儲器分區(qū)存儲技術，可以避免誤操作將有用數據覆蓋。該系統(tǒng)已投入使用，性能優(yōu)，值得推廣。