圖 3 示出對應于表 1 中不同光電二極管的頻率響應。當全部所需的增益都放置到TIA 級時，信噪比便得以改善，原因是由RF 產生的噪聲頻譜密度會隨著 RF 的平方根而增加，而且信號也會線性增加。

　　毫無疑問，在設計時必須考慮所有的噪聲來源。當分析 TIA 輸出的噪聲時，必須注意運算放大器噪聲電壓、反饋電阻器熱噪聲、輸入噪聲電流和光電二極管噪聲電流都不是全部工作在同一個頻率范圍。運算放大器的噪聲電壓將會在噪聲增益的零

　　點和極點之間的區(qū)域被放大，而 RF 和 CT的數(shù)值越高，則噪聲增益的峰值便越早出現(xiàn)，從而對整體輸出噪聲的貢獻亦越大。

　　通過計算 TIA 輸出處所有有貢獻的噪聲電壓之方均根值，便可得出等效的總噪聲電壓值。

　　總括來說，總電容 (CT) 對于 TIA 的穩(wěn)定性起了很重要的作用，CT 愈小那穩(wěn)定性便愈高，而把 CT 盡量降低有兩個方法，一是選擇合適的運算放大器，二是施加一個反向偏壓給光二極管，但這會引致有過量的電流和噪聲出現(xiàn)。本文證實從實驗中不同光二極管和補償方法得出來的測量結果與理論非常吻合。