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熱插拔電路的過熱保護(hù)新方法

作者: 時(shí)間:2011-04-14 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

一些提供商建議在熱插拔中使用的NTC熱敏電阻,由金屬氧化物構(gòu)成,最常用的氧化物為錳、鎳、鈷、鐵、銅和鈦氧化物。制造商用的NTC熱敏電阻采用基本的陶瓷技術(shù),與幾十年前的沒多大差別。

圖3:采用NTC熱敏電阻進(jìn)行的典
型離散熱插拔。

圖3為一種典型的分離式熱插拔的原理圖,它采用NTC熱敏電阻來進(jìn)行。NTC熱敏電阻應(yīng)當(dāng)放置于離功率FET盡可能近(例如放在板的背面)。圖3所示的電路熱的基本工作原理是,控制器ON引腳的電壓與NTC熱敏電阻上的溫度成反比,即隨著NTC熱敏電阻溫度的增加,ON引腳的電壓降低。熱敏電阻上的溫度與功率FET外殼的溫度直接成正比。

這種看起來很簡單,但它在采用NTC熱敏電阻來提供保護(hù)時(shí)具有幾個(gè)固有的問題。其中一個(gè)問題就是,在NTC熱敏電阻上出現(xiàn)足夠高溫度(85℃)而需要降低控制器ON引腳的電壓到臨界值(0.6V)以下前,功率FET結(jié)的最大溫度很容易被超過。這是因?yàn)镹TC熱敏電阻上的溫度完全取決于功率FET外殼溫度(TC)所傳遞的熱量,而FET的結(jié)溫不僅取決于外殼溫度和功耗,還取決于系統(tǒng)溫度的升高,這由周圍溫度、銅線面積、氣流和其它許多因素決定。

容錯(cuò)性問題也影響到NTC熱敏電阻和ON信號啟動(dòng)電壓,這些錯(cuò)誤可以導(dǎo)致系統(tǒng)關(guān)閉溫度發(fā)生顯著的變化。

如果我們采用和圖3電路相同的FET NTB52N10T4,對于一個(gè)12V、電流上限為10A的系統(tǒng),可以計(jì)算出功率FET在超過結(jié)最大溫度150℃前,發(fā)生短路時(shí)外殼的最大溫度:









圖4:集成智能型熱插拔技術(shù)中NIS5101器
件的功能框圖。









那么









這表明該功率FET所允許的最大外殼溫度為66℃。因此,不可能采用圖3所示的電路來提供功率FET的過熱保護(hù),因?yàn)閳D3的溫度臨界值為85℃。

盡管可以采用一些來改變圖3中電路的溫度臨界值,但即使有可能,也很難對功率FET進(jìn)行可靠的過熱保護(hù)。這不僅在于影響熱傳輸?shù)絅TC熱敏電阻的所有因素和條件,還因?yàn)檫@種做法在達(dá)到限流的一段時(shí)間后,并沒有定時(shí)電路來關(guān)閉功率FET。

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