最后, NI的各種模塊化儀器產(chǎn)品可用作為具有ET功能的RF PA測試設(shè)置的每一個組件。 您也可將完整的PA測試系統(tǒng)集成到一個PXI機(jī)箱和統(tǒng)一的硬件驅(qū)動API集合，這可極大簡化系統(tǒng)的集成和測試開發(fā)。

　　1. NI測試解決方案

　　硬件設(shè)置

　　如果要對標(biāo)準(zhǔn)PA測試解決方案進(jìn)行改良以適應(yīng)ET測試，必須在系統(tǒng)中添加AWG(見圖3)。 AWG必須能夠驅(qū)動單端和差分負(fù)載，應(yīng)用常見模式和微分直流偏移、可變增益設(shè)置以及靈活的時鐘選項。 NI PXIe-5451是一款可滿足所有這些需求的400 MS/s雙通道AWG。 它還包含許多板載信號處理函數(shù)，其中包括用于脈沖整形和插值的脈沖響應(yīng)(FIR)濾波、平坦度校正以及可減少軟件預(yù)處理的數(shù)字上變頻器。了解更多關(guān)于NI PXIe-5451的信息。

　　在該應(yīng)用中使用的RF信號發(fā)生器是6.6 GHz NI PXIe-5673E矢量信號發(fā)生器(VSG)，其帶寬超過100 MHz。 NI PXIe-5673E是由三個獨(dú)立的模塊組成： NI PXIe-5450任意波形發(fā)生器、NI PXIe-5652本地振蕩器和NI PXIe-5611 I/Q矢量調(diào)制器。